使用频谱分析仪测量射频相位噪声
本页介绍使用频谱分析仪测量射频相位噪声。它提到了射频相位噪声测量的基础知识和相位噪声测试设置使用频谱分析仪。
正如我们所知，相位噪声是一种有助于验证被测射频信号纯度的测量方法。它适用于各种射频器件、设备和系统，包括晶体振荡器、本振、合成器、上/下变频器等。
请参考射频相位噪声和相位抖动基础知识和转换➤．
相位噪声的定义如下:
“相位噪声在1KHz时等于-60dBc/Hz”，例如6 GHz的射频合成器输出。
使用频谱分析仪测量射频相位噪声的测试设置
图1:使用频谱分析仪设置射频相位噪声测试
使用射频频谱分析仪测量相位噪声的最佳方法。图1描述了用于射频相位噪声测量的典型设置。如图所示，DUT (Device Under Test)的射频输出，即射频合成器与频谱分析仪的射频输入相连。
需要在频谱分析仪中进行以下设置，以达到上述规格的最佳精度来测量相位噪声。
➨中心频率(Fc) = 6ghz
➨跨度= 10千赫
➨标记(δ) = 1KHz
➨RBW(分辨率带宽)= 100hz
➨VBW(视频带宽)= 1 KHz(检查显示并相应地设置以获得所需的结果)。
图2:射频相位噪声测量
如图所示，RBW对使用频谱分析仪测量射频相位噪声有很大的影响。因此，选择最佳RBW来进行与射频输出和跨度相对应的最佳测量。
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