射频和无线供应商和资源的家

一站式满足您的射频和无线需求

增益平面度测试|增益平面度测量公式

本页涵盖增益平整度测试或增益响应测量测试。提出了增益平面度测量公式。可用于射频上变频器、下变频器、射频放大器等器件的增益平坦度测量。

增益平坦度通常在射频系统的技术规范中给出,如下所述:
射频上转换器:增益响应应该是+/- 1db所有应答器在5925到6425 MHz范围内。例如,+/-1dB为6175+/-18 MHz,应答器带宽约为36 MHz。
同样的C波段RF从3700到4200 MHz波段。
射频功率放大器:C波段+/- 1db所有应答器的频率从5925到6425 MHz。

得到平面度测量公式

增益平面度测量
图1:增益平面度响应

如前所述,增益平坦度是最大增益(G马克斯)和最小增益(G最小值)在感兴趣频率范围内测量。平面度测量公式可表示为:

平面度测量公式

获得平面度测试设置

获得平整度测试设置
图2:增益平面度测试设置

图2描述了典型的增益平面度测量测试设置。如前所述,使用了扫描振荡器、标量网络分析仪(SNA)、射频探测器、射频功率分配器、衰减器垫和DUT(待测设备)等工具。以下步骤通常用于增益平面度测量。

➨首先校准SNA进行通测,使用设置中所需的所有RF组件,如功率分配器,探测器和衰减器垫。

➨校准前在扫描振荡器中根据需要对DUT的输入频率范围进行设置。还要注意被测设备所需的输入功率水平,例如射频放大器或射频收发器的射频上变频模块。

➨现在在设置中插入DUT。如图1所示,可以观察到增益响应。在SNA上使用两个标记。一个放在最大值,另一个放在最小值。这两点之间的差异被称为增益平坦度或增益响应。



射频和基带测量相关链路| GSM, WCDMA, LTE

物理层测量
射频测量教程
GSM的测量
射频测量
WCDMA测量
LTE终端测量

测试和测量设备

本节涵盖WLAN、WiMAX、zigbee、蓝牙、GSM、UMTS、LTE和更多基于标准的设备测试的测试和测量设备。它涵盖了频谱分析仪,VSG, VSA,频率计数器,协议分析仪,AWG,数字化仪,函数发生器,脉冲发生器,射频网络分析仪,功率计,逻辑分析仪等。

测试和测量设备误码率测试设备安捷伦T & M解决方案安立科技有限公司罗德与施瓦茨机电解决方案无线信道模拟器矢量信号发生器矢量信号分析仪功率分析设备协议分析器

射频和无线术语


分享本页

翻译本页
Baidu