射频和SoC器件的生产或制造测试一览表
这一页列出生产或制造业测试在射频而且SoC设备其中包括VSWR，回报损失，增益，IQ错配，IP3,TOI等。
| 参数 | 采用多次 | 巴勒斯坦权力机构 | 混合机 | 开关 | 发射机 | 接收机 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 电压驻波比 | X | X | X | X | ||
| 回波损耗 | X | X | X | X | X | |
| 插入损耗 | X | X | ||||
| 获得 | X | X | X | |||
| 增益平坦 | X | X | ||||
| 隔离 | X | X | X | |||
| 线性 | X | |||||
| 噪声图 | X | X | X | X | ||
| 动态范围 | X | X | ||||
| 功耗ex.P1dB | X | X | X | X | X | X |
| 三阶互调积(IP3) | X | X | X | X | X | |
| 三阶截点(TOI) | X | X | ||||
| 谐波失真 | X | X | X | |||
| 转换损失/收益 | X | |||||
| 互调失真 | X | |||||
| 开关速度 | X | |||||
| 带宽 | X | X | X | X | ||
| 功率增加效率(PAE) | X | |||||
| 杂散输出 | X | X | X | |||
| RF-LO拒绝 | X | X | ||||
| ACPR / ACLR | X | X | ||||
| 相位噪声 | X | X | ||||
| 智商抵消 | X | |||||
| 智商振幅匹配 | X | |||||
| IQ相位匹配 | X | |||||
| 输出功率 | X | |||||
| 载波抑制 | X | |||||
| 误差矢量幅度(EVM) | X | X |
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参考文献
Keith B. Schaub和Joe Kelly所著的无线通信射频和片上系统设备的生产测试书
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